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Prestaciones de la Microscopía Electrónica al Sector Productivo

En el acto de inicio se escucharon las palabras del Dr. Pablo Collins, de la Dra. Erica Hynes y de la Dra. Alicia Boix.


FOTO: CONICET Santa Fe.

 

El miércoles 31, se llevó a cabo la Jornada de difusión sobre las “Prestaciones de la Microscopía Electrónica al Sector Productivo”. Se realizó en la Sala de Capacitación del Edificio Documentación del Predio CONICET “Dr. Alberto Cassano”, de la ciudad de Santa Fe, y concurrieron alrededor de 60 personas. En el acto de inicio se escucharon las palabras del Dr. Pablo Collins -Vicedirector del CONICET Santa Fe y Director del INALI, de la Dra. Erica Hynes -Ministra de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva de Santa Fe- y de la Dra. Alicia Boix (INCAPE) -Coordinadora del Comité de Seguimiento Académico y Productivo del Microscopio Electrónico de Transmisión”-.

CRONOGRAMA

Miércoles 31 de octubre
Edificio Documentación, Predio CONICET “Dr. Alberto Cassano”
9.00 a 9.45
Dr. Rafael Leal, experto de JEOL-Brasil.
“Avances en Nanociencia y Nanotecnología, importancia de la Microscopia”

10.00 a 10.45
Dr. Víctor Hugo Casco, Dir. del Instituto de Investigación y Desarrollo en Bioingeniería y Bioinformática (CONICET-UNER). Dir. del Lab. de Microscopía Aplicada a estudios moleculares y celulares (Fac. Ing.-UNER).
«Principales Métodos y Aplicaciones de la MET en Ciencias Biológicas”

11:00-11:30 Coffee Break

11.30 a 12.15
Dra. Iris Alvarez, Investigadora Principal de CONICET, especialista en Microscopía de IFIR (CONICET-UNR)
“Potencialidad de la microscopia electrónica de transmisión en el área de los materiales metálicos”

12.30 a 13.00
Mesa redonda para consultas sobre las posibles aplicaciones particulares de cada empresa.
Características del TEM
Microscopio Electrónico de Transmisión (JEOL modelo JEM-2100 plus) de alta resolución, TEM/STEM con emisor de hexaboruro de lantano (LaB6), voltaje de aceleración máxima de 200 kV. Lente objetiva de alta resolución (0,19 nm). Con
detectores incorporados para obtener imágenes en los siguientes modos: campo brillante (BF), campo oscuro (DF), alta resolución (HRTEM) y campo oscuro anular de alto ángulo (HAADF-TEM). Herramienta indispensable para la investigación y
desarrollo de la nanotecnología en muchos campos, incluida la catálisis heterogénea, nuevos materiales tanto amorfos como cristalinos, dispositivos semiconductores, nuevas aleaciones y nuevos materiales cerámicos. En Biología, estudios celulares,
moleculares, estructurales y ultraestructurales. El TEM se adquirió en 2017 a través de una convocatoria de la Agencia provincial, por un total de 8,5 millones de pesos, y ha
sido montado en el Laboratorio de Microscopía del CONICET Santa Fe, bajo la coordinación del SECEGRIN.