Nuevo microscopio electrónico

Se realizó la presentación de las prestaciones que ofrece -al sistema científico-tecnológico y socio-productivo de la región santafesina-, este equipo de última generación adquirido en el marco del PME 2015. Se trata de un microscopio con cañón por emisión de campo (FESEM) y columna de emisión de iones (FIB), que será instalado en el Servicio Centralizado de Grandes Instrumentos (SECEGRIN) del CONICET Santa Fe.

El encuentro estuvo a cargo del Ing. Carlos Peralta, técnico experto en microscopía electrónica de barrido y presidente de la firma Microscopy S.A., quien explicó las capacidades y potencialidades de la estación de trabajo FIB-SEM con columna FIB de alta corriente y resolución, modelo Crossbeam 350 marca ZEISS, original Carl Zeiss Microscopy GmbH, Alemania. Al cierre de la presentación se realizaron consultas sobre los detectores y accesorios con los que cuenta el equipo.

El encuentro también se pudo presenciar de forma virtual.